SAE J592 Sidemarker Lamps for Use on Road Vehicles Less than 2032 mm in Overall Width
时间:2024-05-18 21:44:48 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:9997
Product Code:SAE J592
Title:Sidemarker Lamps for Use on Road Vehicles Less than 2032 mm in Overall Width
Issuing Committee:Signaling And Marking Devices Stds Comm
Scope:This SAE Standard provides test procedures, requirements, and guidelines for sidemarker lamps for vehicles less than 2032 mm in overall width.
基本信息
标准名称: | 硅片表面平整度测试方法 |
英文名称: | Testing methods for surface flatness of silicon slices |
中标分类: |
冶金 >>
半金属与半导体材料 >>
半金属与半导体材料综合 |
ICS分类: |
电气工程 >>
半导体材料
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替代情况: | 替代GB/T 6621-1995 |
发布部门: | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
发布日期: | 2009-10-30 |
实施日期: | 2010-06-01 |
首发日期: | 1986-07-26 |
作废日期: | |
主管部门: | 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会 |
提出单位: | 全国半导体设备和材料标准化技术委员会 |
归口单位: | 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会 |
起草单位: | 上海合晶硅材料有限公司 |
起草人: | 徐新华、严世权、王珍 |
出版社: | 中国标准出版社 |
出版日期: | 2010-06-01 |
页数: | 8页 |
适用范围
本标准规定了用电容位移传感器测定硅抛光片平整度的方法,切割片、研磨片、腐蚀片也可参考此方法。
本标准适用于测量标准直径76mm、100mm、125mm、150mm、200mm,电阻率不大于200Ω·cm厚度不大于1000μm 的硅抛光片的表面平整度和直观描述硅片表面的轮廓形貌。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属与半导体材料综合 电气工程 半导体材料
基本信息
标准名称: | 丁草胺原药 |
中标分类: |
化工 >>
化肥、农药 >>
农药 |
替代情况: | 原标准号ZB G25003-89;被HG 3291-2001代替 |
发布日期: | |
实施日期: | 2001-03-01 |
首发日期: | |
作废日期: | 2002-07-01 |
出版日期: | |
页数: | 6页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类: 化工 化肥 农药 农药