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GB/T 8704.8-2009 钒铁 铝含量的测定 铬天青S分光光度法和EDTA滴定法

时间:2024-05-10 15:34:42 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:8512
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基本信息
标准名称:钒铁 铝含量的测定 铬天青S分光光度法和EDTA滴定法
英文名称:Ferrovanadium—Determination of aluminium content—The chromazurol S spectrophotometric method and EDTA titrimetric method
中标分类: 冶金 >> 金属化学分析方法 >> 钢铁与铁合金分析方法
ICS分类: 冶金 >> 铁合金
替代情况:替代GB/T 8704.8-1994
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2009-07-15
实施日期:2010-04-01
首发日期:1994-09-26
作废日期:
主管部门: 中国钢铁工业协会
提出单位:中国钢铁工业协会
归口单位: 全国钢标准化技术委员会
起草单位:全国生铁及铁合金标准化技术委员会
起草人:唐华应、方艳
出版社:中国标准出版社
出版日期:2010-04-01
页数:12页
计划单号:20074170-T-605
适用范围

GB/T8704的本部分规定了用铬天青S分光光度法和EDTA 滴定法测定钒铁中的铝含量。
本部分适用于钒铁中铝含量的测定。铬天青S分光光度法测定范围(质量分数):0.10%~0.80%;EDTA 滴定法测定范围(质量分数):0.50%~3.50%。

前言

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引用标准

下列文件中的条款通过GB/T8704的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB/T4010 铁合金化学分析用试样的采取和制备

所属分类: 冶金 金属化学分析方法 钢铁与铁合金分析方法 冶金 铁合金
【英文标准名称】:Safetyofhouseholdandsimilarelectricalappliances-Part2:Particularrequirementsforcommercialelectricgriddlesandgriddlegrills(Amendment1:1990toIEC335-2-38:1986,modified);GermanversionEN60335-2-38/A1:1992andA51:1992
【原文标准名称】:家用和类似用途电器的安全.第1部分:一般要求
【标准号】:DINEN60335-2-38/A51-1995
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1995-04
【实施或试行日期】:1995-04-01
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:绝缘电阻;工作场所安全;检验;电气工程;试验;作标记;电气器具;绝缘强度;贸易;浅平底锅;格栅烤架;灶具;机械安全;安装细则;铭刻;工业经济;家用电器;厨房器具;职业安全;烤架;电气安全;安全要求;设备安全;安全;使用说明;
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:Y60
【国际标准分类号】:97_040_20
【页数】:10P;A4
【正文语种】:德语


【英文标准名称】:Semiconductordieproducts.Exchangedataformats
【原文标准名称】:半导体压模制品.交换数据格式.
【标准号】:BSEN62258-2-2011
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2011-07-31
【实施或试行日期】:2011-07-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Assemblies;Automation;Automationsystems;Chips;Components;Connections;Data;Dataexchange;Dataformats;Datarepresentation;Delivery;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Exchange;Formats;Integratedcircuits;Lists;Materials;Mechanicaltesting;Productdata;Production;Semiconductorchips;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing;Wafers
【摘要】:ThisPartofIEC62258specifiesthedataformatsthatmaybeusedfortheexchangeofdatawhichiscoveredbyotherpartsoftheIEC62258series,aswellasdefinitionsofallparametersusedaccordingtotheprinciplesandmethodsofIEC61360.ItintroducesaDeviceDataExchange(DDX)format,withtheprimegoaloffacilitatingthetransferofadequategeometricdatabetweendiemanufacturerandCAD/CAEuserandformalinformationmodelsthatallowdataexchangeinotherformatssuchasSTEPphysicalfileformat,inaccordancewithISO10303-21,andXML.Thedataformathasbeenkeptintentionallyflexibletopermitusagebeyondthisinitialscope.Ithasbeendevelopedtofacilitatetheproduction,supplyanduseofsemiconductordieproducts,includingbutnotlimitedto:?wafers,?singulatedbaredie,?dieandwaferswithattachedconnectionstructures,?minimallyorpartiallyencapsulateddieandwafers.ThisstandardreflectstheDDXdataformatatversion1.3.0
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_99
【页数】:74P.;A4
【正文语种】:英语